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雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263

產(chǎn)品簡介

雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263

概述
DP-2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電

產(chǎn)品型號：DP-2263
更新時間：2023-06-29
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263

概述
     DP-2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，對數(shù)據(jù)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。 

雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263
     儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
     主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！
     探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。


     測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。
          
     儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
     儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
三、基本參數(shù)
3.1  測量范圍
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
    電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2  材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)
    直    徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
    長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    測量方位: 軸向、徑向均可
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：
    (1)量程： 20.00mV～2000mV
    (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4  數(shù)控恒流源
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5  四探針探頭（選配其或加配）
   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz          耗：<20W
3.7 外形尺寸：
   主機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）

 

 

 

 

四探針電阻率測試儀／四探針電阻率/方阻測定儀　型號：DP-2253

概述
  
      DP-2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
    主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
    測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
      
    儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
    儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數(shù)
3.1  測量范圍
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
     直    徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
    長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    測量方位: 軸向、徑向均可
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：
    (1)量程： 20.00mV～2000mV
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配）
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz          耗：<20W
3.7.外形尺寸：
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）
   凈   重：≤2.5kg

 

 

數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀　型號：DP-2258C

 

概述
      DP-2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。 
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。 
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類能，zui大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
      測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》 
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。 
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量級） 
    電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 
    電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級 
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB

 
4.作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg

 

 

 

 

 

數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀　型號：DP-2258A

概述
       DP-2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
      主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類能，zui大分類10類。
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

       儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。
       儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率（可向下拓展1～3個數(shù)量級，括號內(nèi)為向下拓展3個數(shù)量級）
     電    阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104  Ω
                （1.0×10-6 ～ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
     電 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
                （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）
     方塊電阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□  分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□ 
                （5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
   直    徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
   DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
   長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
   測量方位:  軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ 
zui大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB

4) 作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm 
      凈   重：≤1.5～2.0kg

 

 

 

 

 

微量移液器/移液器/微量移液槍 型號：DP27026

產(chǎn)品參數(shù)：

1µL～10µL/20µL～200µL/100µL～1000µL/500µL～5000µL

 

 

 

 

 

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應(yīng)的
  
本公司主營 液氮治療儀，電測水位計，空盒氣壓表，奧氏氣體分析儀。四聯(lián)自動射流萃取器，煙塵煙氣分析儀，便攜式煙氣分析儀，金屬粉末流動性測定儀， 污垢熱阻檢測儀 ，數(shù)字式大氣壓計 ，不銹鋼自動溶液過濾器，紫外輻照計，氫氣發(fā)生器，露點傳感器 ，紅外測油儀 ，污染數(shù)SDI測定儀，三聚氰胺速測儀 ，粉體綜合特性測試儀 粉體特性測試儀 放射性檢測儀，防靜電表/靜電測試儀/ 濕式氣體流量計 氣體流量計 流量計等。公司秉承“顧客至上，銳意取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶*”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎惠顧！

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