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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心專(zhuān)用儀器儀表DP-KDT紅寶石探針頭系列 紅寶石探測(cè)器 /紅寶石探針頭 紅寶石探測(cè)儀(*)

紅寶石探針頭系列 紅寶石探測(cè)器 /紅寶石探針頭 紅寶石探測(cè)儀(*)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

使用幾何尺寸十分確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準(zhǔn)確的壓力。

產(chǎn)品型號(hào):DP-KDT
更新時(shí)間:2016-12-04
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:923

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產(chǎn)品分類(lèi)
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紅寶石探針頭系列 紅寶石探測(cè)器 紅寶石探針頭 紅寶石探測(cè)儀(*) 型號(hào):DP-KDT
、特點(diǎn)
1、 使用幾何尺寸十分確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準(zhǔn)確的壓力。
4、 量具度的硬質(zhì)合金探針,在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng),持久耐磨。
二、用途
1、 測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、標(biāo)
1、 游移率   
                   B級(jí)…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差  
                   B級(jí)…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導(dǎo)孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質(zhì)合金(主成份:口碳化鎢)或速鋼
5、 探針壓力      標(biāo)準(zhǔn)壓力:6—10N(4根針總壓力)
                        小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)     
                        1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ

2.

其它
 
 
 
商品名稱(chēng):圓柱彎曲試驗(yàn)儀/圓柱彎曲檢測(cè)儀
商品型號(hào):DP-II
 

圓柱彎曲試驗(yàn)儀/圓柱彎曲檢測(cè)儀   型號(hào):DP-II

圓柱彎曲試驗(yàn)儀/圓柱彎曲檢測(cè)儀說(shuō)明:   
      DP-II圓柱彎曲試驗(yàn)儀按GB/T 6742和ISO 1519-93,適用于測(cè)定色漆、清漆涂層在標(biāo)準(zhǔn)條件下繞定直徑園柱軸彎曲時(shí)而不引起涂膜破壞的zui小直徑,以mm表示。這是個(gè)非常簡(jiǎn)單而且快速的測(cè)定涂層彈性的方法,只需將已有涂層的試板放在已知直徑的圓軸上彎曲,并觀察涂層的開(kāi)裂或破壞的情況。
   圓柱彎曲試驗(yàn)儀/圓柱彎曲檢測(cè)儀主要參數(shù):
■  款人性化,方便快捷操作
■  有12根不同直徑的不銹鋼棒:Φ2、Φ3、Φ4、Φ5 、Φ6 、Φ8 、Φ10 、 Φ12 、Φ 16 、 Φ20 、Φ25 、Φ32mm
■  可測(cè)量zui大寬至35mm(1.38英寸)的試板
 圓柱彎曲試驗(yàn)儀/圓柱彎曲檢測(cè)儀  操作步驟:
→  將涂料涂在寬35mm(1.38英寸)厚0.3mm(12mil)的金屬板上
→ 小心地涂膜并將它烤干以保證良好的重現(xiàn)性
→ 試驗(yàn)時(shí),在1-2秒內(nèi)均勻用力把已上涂料的樣品彎曲至180度
→ 由zui大半徑圓柱軸開(kāi)始,遞減半徑測(cè)試直到能看到涂層斷裂為止

■  訂購(gòu)信息:DP-II圓柱彎曲試驗(yàn)儀  

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